Рис. 18. Дислокации, идущие в виде радиально-лучистых пучков из центра кристалла к поверхности граней {111}

Рентгенодифракционная топограмма, полученная В.Ф. Миусковым с алмаза из якутского месторождения

Интересные данные о дислокационных дефектах роста получе­ны при исследовании кристаллов алмаза методом рентгенодифрак-ционной топографии. С помощью этого метода были установлены планарные дефекты роста (Lawan et al., 1965) и дислокации, имею­щие вид радиально-лучистых пучков, идущих из центра к поверх­ности граней (Frank, Lang, 1959; Lang, 1964; Миусков, Орлов, 1966). На рис. 18 приведена одна из рентгенодифракционных топограмм кристалла алмаза, по которой хорошо видны дислокации, идущие из центра к поверхности граней. Эти дислокации могут на­блюдаться также в поляризованном свете при скрещенных николях, что показывается при описании аномального двупреломления в кри­сталлах алмаза (гл. VI). Обычно исходной точкой этого типа дис­локаций является микроскопического размера включение Нередко включение располагается не в центре, а в различных других точках внутри кристалла, и в этом случае дислокации в виде расходяще­гося пучка лучей идут от него к поверхности одной из граней кри­сталла


назад далее